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葉面積指數測定儀的詳細介紹以及技術參數
葉面積指數測定儀是用于各種高度植物冠層的研究，利用魚眼鏡頭和CCD圖 像傳感器獲取植物冠層圖像，通過專用分析軟件，獲得植物冠層的相關指標和參數。利 用魚眼鏡頭成像測量植物冠層數據，只操作一次即可，簡化了傳統測量方法 要一天定點多次測量的繁復工作，而且利用圖像法測量冠層可以主動避開不符合計算該冠 層結構參數的冠層空隙部分，也可以躲開不符合測量計算的障礙物。
葉面積指數測定儀采用了冠層孔隙率與冠層結構相關的原理。它是根據光線穿過介質減弱的比爾定律，在對植物冠層定義了一系列假設前提的條件下，采用半理論 半經驗的公式，通過 冠層孔隙率的測定，計算出冠層結構參數。這是目前世界上各種冠層儀一致采用的原理。在上述原理下，植物冠層圖象分析儀采用的是對冠層下 天穹半球圖像分析 測量冠層孔隙率的方法，該方法是各類方法中較準確和較省力、省時、快捷方便的方法。
技術參數 ：
1.鏡頭角度：150°（或用戶自選180°鏡頭。除用戶有特殊需要，180°魚眼鏡頭經
常不適合孔隙率測量原理與方法所假設的前提條件，用于冠層結構分析是不適宜
和不經濟的）。
2.分辨率：768×494pix
3.測量范圍：天頂角由0°～75°（150°魚眼鏡頭）可分割成十個區域，方位角360°亦可分割成十個區域。
4．PAR感應范圍：感應光譜400～700nm。 測量范圍0～2700μmol/m2•s
5.分析軟件：專業植物冠層分析系統軟件。
6.顯示和內存：7英寸筆記本，128內存以上。
7.電 源：電腦電池。
8.探頭尺寸：直徑6cm，高10cm
9.傳輸接口：USB
10.工作溫度：0～55℃
11.重量：1.5kg
葉面積指數測定儀以任意定義圖像分析區域（天頂角可分10區，方位角可分10區）。對不同方向的冠層進行區域性分析時，可以任意屏蔽地物景像和不合理 的冠層部分（如缺株、邊行問題等）。對不同天頂角起始角和終止角的選擇，可以避開不符合計算該冠層結構參數的冠層孔隙條件，通過USB接口直接將測點圖像顯示在計算機上，可以在野外即時觀察圖像，選擇合理的測點，將圖像存貯。
測試原理與方法
葉面積指數測定儀采用了冠層孔隙率與冠層結構相關的原理。它是根據光線穿過介質減弱的比爾定律，在對植物冠層定義了一系列假設前提的條件下，采用半理論 半經驗的公式，通過 冠層孔隙率的測定，計算出冠層結構參數。這是目前世界上各種冠層儀一致采用的原理。在上述原理下，植物冠層圖象分析儀采用的是對冠層下 天穹半球圖像分析 測量冠層孔隙率的方法，該方法是各類方法中較準確和較省力、省時、快捷方便的方法。
技術參數 ：
1.鏡頭角度：150°（或用戶自選180°鏡頭。除用戶有特殊需要，180°魚眼鏡頭經
常不適合孔隙率測量原理與方法所假設的前提條件，用于冠層結構分析是不適宜
和不經濟的）。
2.分辨率：768×494pix
3.測量范圍：天頂角由0°～75°（150°魚眼鏡頭）可分割成十個區域，方位角360°亦可分割成十個區域。
4．PAR感應范圍：感應光譜400～700nm。 測量范圍0～2700μmol/m2•s
5.分析軟件：專業植物冠層分析系統軟件。
6.顯示和內存：7英寸筆記本，128內存以上。
7.電 源：電腦電池。
8.探頭尺寸：直徑6cm，高10cm
9.傳輸接口：USB
10.工作溫度：0～55℃
11.重量：1.5kg
葉面積指數測定儀以任意定義圖像分析區域（天頂角可分10區，方位角可分10區）。對不同方向的冠層進行區域性分析時，可以任意屏蔽地物景像和不合理 的冠層部分（如缺株、邊行問題等）。對不同天頂角起始角和終止角的選擇，可以避開不符合計算該冠層結構參數的冠層孔隙條件，通過USB接口直接將測點圖像顯示在計算機上，可以在野外即時觀察圖像，選擇合理的測點，將圖像存貯。
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