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差分靜電遷移率分析儀差分粒子電遷移器）被廣泛用于氣溶膠顆粒物的分離，DEMC又名DMA （Differential Mobility Analyzer.靜電遷移...

塵埃粒子計數器PZG系列,采樣量 100 LPM,可以得到靈敏度0.3 μm . （或者: 28.3 LPM = 1.0 CFM, 靈敏度可達0.2 μm）. ...

通用型濾材測試系統不同系統配置可用于測試濾料、小型過濾元件、高效過濾器、一般通風過濾器、壓縮空氣過濾器、車用空氣過濾器及油霧分離器等，特殊配置可滿足高溫、高濕條...

無掩膜曝光機美國IMP（Intelligent Micro Patterning,LLC）公司憑借多年的光刻設備生產經驗和多項無掩模曝光技術，已成為無掩模紫外光...

粒子計數和粒徑分布可以同時得到,互不干擾.這是高精度氣溶膠粒徑譜儀1的 重要的要求. 新型的T型孔傳感器技術,*次解決了消除邊緣效應和重疊粒子計數,使高 濃度氣...

四袋電子束蒸發器Beam Evaporator is an UHV evaporator for small and medium quantities of ...

俄歇電子能譜儀（在線表面分析）The microCMA is a compact （2.75“ CF mount） cylindrical mirror typ...

離子束拋光系統磁隧道結介電界面涂層Rugate FiltersHigh-k 材料形狀記憶合金光電材料超導材料單一結晶GaN

脈沖激光沉積系統（PLD）靶被照射后吸收高密度能量而形成的plume狀等離子體狀態，然后被堆積到設在對面的基板上而成膜。PLD方法可以獲得擁有熱力學理論上準穩定...

此系統致力于煙霧的研究，廣泛應用在各國的煙火研究分析實驗室，專業分析高標準濾材。 某些特殊行業需要超高潔凈度，對濾材要求高，例如核研究，制藥車間，半導體超凈室等...

該ALD擁有達到或超過市場上其他品牌的功能，同時易于使用和維護 - 成本低于當今市場上的價格腔室溫度：室溫到325°C±1°C;前...

動態TOF-SIMS系統，它使用直流主束的飛行時間分析儀，創建了成像質譜的新范式。直流一次離子束的使用允許快速成像和連續數據采集（即沒有單獨的蝕刻周期），同時提...

輪廓儀為了終應用來選擇佳涂層或基底材料，客戶有必要不僅僅檢測摩擦系數，也需要檢測磨損速率。磨損速率測量可以提供可靠的結果，這可以允許客戶來決定手否樣品能夠達到應...

便攜式粒徑譜儀具有穩定的輸出和更長的使用壽命。所有系統包括一個可插入式過濾器（直徑47或50毫米）的接口。因此進行氣溶膠組成成分的化學分析也是可能的。

粉體、散裝物料、顆粒、顆粒等在生產、運輸和充填過程中會產生粉塵，這些粉塵會對職業安全和生產的可靠性產生負面影響。此外，灰塵污染環境，在生產損失中起著不可忽視的作...

idas Frog允許快速、可靠和有質量保證地確定細粉塵，例如在工作場所健康、安全和環境（HSE）管理范圍內（暴露評估）或在室內空氣質量測量范圍（例如辦公室、公...

差分靜電遷移率分析儀差分粒子電遷移器）被廣泛用于氣溶膠顆粒物的分離，DEMC又名DMA （Differential Mobility Analyzer.靜電遷移...

塵埃粒子計數器PZG系列,采樣量 100 LPM,可以得到靈敏度0.3 μm . （或者: 28.3 LPM = 1.0 CFM, 靈敏度可達0.2 μm）. ...

通用型濾材測試系統不同系統配置可用于測試濾料、小型過濾元件、高效過濾器、一般通風過濾器、壓縮空氣過濾器、車用空氣過濾器及油霧分離器等，特殊配置可滿足高溫、高濕條...

無掩膜曝光機美國IMP（Intelligent Micro Patterning,LLC）公司憑借多年的光刻設備生產經驗和多項無掩模曝光技術，已成為無掩模紫外光...