詳細摘要: JCM-7000是以"誰都可以操作的SEM/EDS"為理念的臺式掃描電子顯微鏡, 標配Zeromag、Live analysis、 Live 3D功能。 新設置...
產品型號:所在地:北京市更新時間:2024-06-21 在線留言注塑機 擠出機 造粒機 吹膜機 吹塑機 吹瓶機 成型機 吸塑機 滾塑機 管材生產線 板材生產線 型材生產線 片材生產線 發泡設備 塑料壓延機
艾普斯卡(北京)設備有限公司
詳細摘要: JCM-7000是以"誰都可以操作的SEM/EDS"為理念的臺式掃描電子顯微鏡, 標配Zeromag、Live analysis、 Live 3D功能。 新設置...
產品型號:所在地:北京市更新時間:2024-06-21 在線留言詳細摘要: 日常使用的SEM,好用! 該設備分辨率1nm、探針電流300nA(之前的15倍),可提供豐富的觀測和分析信息,用戶界面操作簡單、設計緊湊、配備大樣品室。
產品型號:所在地:北京市更新時間:2024-06-21 在線留言詳細摘要: 肖特基場發射掃描電子顯微鏡能長時間穩定地提供高電流下的微細探針,與View2XP(Gatan公司制造)結合使用,能對樣品進行自動切割,自動獲取圖像。通過對獲得的...
產品型號:所在地:北京市更新時間:2024-06-21 在線留言詳細摘要: JED-2300/2300F Analysis Station是以“圖像觀察和分析“ 為基本理念的TEM/EDS集成系統。通過與SEM的馬達驅動樣品臺聯動使用,...
產品型號:所在地:北京市更新時間:2024-06-21 在線留言詳細摘要: JSM-IT200 InTouchScope 是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。
產品型號:所在地:北京市更新時間:2024-06-21 在線留言詳細摘要: JSM-IT800具備高分辨觀察和高速元素面分析,能夠滿足客戶的各種需求。該裝置配備浸沒式肖特基場發射電子槍、新一代電子光學控制系統Neo Engine、一體化...
產品型號:所在地:北京市更新時間:2024-06-21 在線留言詳細摘要: 高靈敏度、低噪聲1900萬像素CMOS傳感器成像更清晰,可在低電子劑量下呈現樣品細節。 全局快門和高幀率(58 fps/全像素模式)設計使其在動態觀察過程中原位...
產品型號:所在地:北京市更新時間:2024-06-21 在線留言詳細摘要: JEM-ACE200F將JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技術整合在一起,實現了高度穩定性和高分辨率,以精煉的外觀設計呈現。該設備做成了操作流程菜單...
產品型號:所在地:北京市更新時間:2024-06-21 在線留言詳細摘要: CRYO ARM 300 II 是一款低溫冷凍透射電子顯微鏡,專門用于觀察如蛋白質等對電子束敏感的樣品,可進行單顆粒分析、斷層掃描和MicroED等實驗。與上一...
產品型號:所在地:北京市更新時間:2024-06-21 在線留言詳細摘要: 場發射冷凍電子顯微鏡 JEM-Z200FSC CRYO ARM 200標配冷場發射電子槍、柱體內能量過濾器(Ω能量過濾器)、液氮冷卻樣品臺和12位自動樣品更換系...
產品型號:所在地:北京市更新時間:2024-06-21 在線留言詳細摘要: JEM-1400Flash配備了高靈敏度sCMOS相機、超廣視野的蒙太奇系統以及光學顯微鏡圖像的聯動功能,是一款新型的高通量、高分辨率 的120kV透射電子顯微...
產品型號:所在地:北京市更新時間:2024-06-21 在線留言詳細摘要: JEM-ARM300F2是GRAND ARMTM的第二代產品,該設備在性能上有了進一步的提高,無論采用怎樣的加速電壓都能獲得超高空間分辨率圖像和高靈敏度的元素分...
產品型號:所在地:北京市更新時間:2024-06-21 在線留言詳細摘要: “NEOARM" 標配了日本電子獨自開發的冷場發射電子槍(Cold-FEG)和全新的高階球差校正器(ASCOR)。無論是在200kV的高加速電壓還是在30kV的...
產品型號:所在地:北京市更新時間:2024-06-21 在線留言詳細摘要: JEM-2100Plus電子顯微鏡,不僅擁有信譽的JEM-2100 的電子光學系統,還增加了的控制系統,大幅提高了可操作性。 多功能電子顯微鏡JEM-2100P...
產品型號:所在地:北京市更新時間:2024-06-21 在線留言詳細摘要: JED-2300T AnalysisStation是以“圖像觀察和分析"為基本理念的TEM/EDS集成系統。在分析數據過程中,自動采集電鏡主機的倍率、加速電壓等...
產品型號:所在地:北京市更新時間:2024-06-21 在線留言詳細摘要: 由于超高壓透射電子顯微鏡的加速電壓很高電子波長很短,即使增大物鏡極靴之間的間隙,也能獲得高分辨率的圖像。此外,電子束具有很強的穿透能力,即使厚樣品也能觀察到清晰...
產品型號:所在地:北京市更新時間:2024-06-21 在線留言詳細摘要: TEM斷層掃描系統采用算法的軟件,實現了從獲取連續傾斜圖像到三維重構整個過程的自動化。
產品型號:所在地:北京市更新時間:2024-06-21 在線留言詳細摘要: 以節能環保、減排低碳為理念開發的JEM-F200場發射透射電子顯微鏡,不僅提高了空間分辨率和分析性能,還采用了新的操作系統可滿足多種使用途徑,易用性強,外觀設計...
產品型號:所在地:北京市更新時間:2024-06-21 在線留言您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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