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上海良允科學儀器有限公司


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掃描近場光學顯微鏡(SNOM)

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產(chǎn)品型號alpha300 S

品       牌

廠商性質(zhì)其他

所  在  地上海市

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更新時間:2024-04-17 15:59:43瀏覽次數(shù):91次

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產(chǎn)品簡介

傳統(tǒng)光學顯微鏡的空間分辨率受限于光學衍射極限,分辨率為波長的一半λ/2

詳細介紹

傳統(tǒng)光學顯微鏡的空間分辨率受限于光學衍射極限,分辨率為波長的一半λ/2。掃描近場光學顯微鏡 (SNOM或NSOM) 則可以突破衍射極限,實現(xiàn)了60-100nm的超高光學空間分辨率。近場光學技術應用領域非常廣,無需特殊樣品制備。


WITec公司的 alpha300 S近場光學顯微鏡采用硅基中空懸臂式近場探針,輕松實現(xiàn)超衍射極限的光學成像。在近場光學圖像采集的過程中,可同時獲得樣品的AFM表面形貌,實現(xiàn)近場光學信息與樣品形貌的相關分析。WITec近場光學系統(tǒng)采用成熟穩(wěn)定的AFM激光偏轉(zhuǎn)反饋系統(tǒng)同來控制探針與樣品之間的距離。


與熒光技術聯(lián)用,近場光學系統(tǒng)可實現(xiàn)單分子檢測。


超高分辨顯微鏡

alpha300 S近場顯微鏡是一種純近場光學顯微鏡,在很多樣品上都可獲得一致的超高分辨率,并且擁有透射與反射式兩種模式。 該近場光學顯微鏡不同于其他的超分辨顯微鏡,如 STED 和 STORM,后二者往往受限于熒光染料分子的可選種類及特殊的激發(fā)光源。


alpha300 S系統(tǒng)采用軟件可控的快速自動進針及調(diào)節(jié)等自動測試流程,操作非常簡便、直觀。


SNOM近場模式采用特定的顯微物鏡,便于探針安裝與定位。alpha300 S顯微鏡不僅與所有AFM工作模式兼容,還可以配備透射、反射及熒光等標準光學模式。


由于近場光學信號極其微弱,alpha300 S近場光學顯微鏡配備高靈敏單光子計數(shù)的光電倍增管或雪崩二極管,并同時提供檢測器快速超載保護。更重要的是,UHTS光譜儀可與alpha300 S系統(tǒng)兼容,實現(xiàn)近場光譜與成像測量。


WITec 的 SNOM 懸臂技術


[A] SNOM探針和樣品的光學圖像(俯視圖)

[B] 探針側(cè)視圖

[C] SNOM探針的SEM圖像

[D] SNOM探針的小孔SEM圖像

[E] 批量生產(chǎn)的SNOM探針


關鍵特性

· 突破衍射極限的空間光學分辨率(橫向約 60 nm)

· 的SNOM探針技術

· 在空氣與液體中均可使用

· 包含多種原子力與光學顯微鏡模式

· 非破壞性、無需標記的超高分辨成像技術,基本不需要樣品制備

· 可升級到關聯(lián)的共聚焦拉曼成像和近場拉曼成像

· 集成三種技術到一臺儀器上:共聚焦顯微鏡、AFM 和SNOM



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