基于激光共焦掃描顯微系統(tǒng)--熒光成像、熒光強(qiáng)度掃描成像、熒光壽命掃描成像、熒光光譜掃描成像
新一代快速熒光壽命成像FastFLIM系統(tǒng),提供單分子級的靈敏度,檢測波長標(biāo)準(zhǔn)配置范圍:350-1050nm;壽命范圍100ps-100ms;用于化學(xué)、納米、能源、生物等學(xué)科方向,單分子動態(tài)、活細(xì)胞、微區(qū)成像及形貌、能級結(jié)構(gòu)和能量傳遞特征的機(jī)理研究,測試速度高達(dá)5fps(512×512),1×1 到 4096×4096成像,采用可視化Phasor plots熒光壽命直讀半圓規(guī),批量熒光壽命成像數(shù)據(jù)處理進(jìn)入直讀時(shí)代;振鏡掃描適于所有時(shí)間尺度的壽命成像。活細(xì)胞工作站、變溫測試可選用;
主要功能描述:
激光共焦熒光強(qiáng)度成像LCM;
熒光壽命成像FLIM,磷光壽命成像PLIM;
上轉(zhuǎn)換熒光(壽命)成像,稀土發(fā)光(壽命)成像,延遲熒光(壽命)成像;
熒光波動成像FFS(FCS,F(xiàn)CCS, PCH,N&B, RICS, FLCS),F(xiàn)LIM-FRET成像;
單量子點(diǎn)發(fā)光(壽命)成像,單分子及單分子熒光共振轉(zhuǎn)移成像,包括交替激發(fā)PIE成像;
穩(wěn)態(tài)及瞬態(tài)偏振成像;
微區(qū)熒光光譜采集及光譜成像;
反聚束測試;
Prof. Joseph R. Lakowicz 實(shí)驗(yàn)室選擇的FLIM系統(tǒng)
數(shù)字頻域技術(shù)DFD-FLIM (FastFLIM)和時(shí)域技術(shù)TD-FLIM (TCSPC)成像技術(shù);
實(shí)時(shí)直讀式獲得熒光壽命數(shù)值及變化趨勢,F(xiàn)RET效率分布;
選擇300-1600nm波長范圍檢測器,2-4通道檢測器,用于成像,F(xiàn)LIM-FRET;
可以升級無波長干擾AFM,實(shí)現(xiàn)同區(qū)域形貌和FLIM同步測試;
紫外-可見-紅外激發(fā)波長,單波長或超連續(xù)激光器;266nm-1300nm激光器可選;PIE功能可選;白光激光器可選用;
單光子或雙光子的激光器;