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行業(yè)產(chǎn)品

  • 行業(yè)產(chǎn)品

深圳市賽麥吉圖像技術(shù)有限公司


  • 棋盤測試圖卡幾何畸變卡

    詳細摘要: 水平方向的間隔315KHz(約2/25h),垂直方向的間隔900Hz的(約1/14h)。

    產(chǎn)品型號:所在地:深圳市更新時間:2022-12-07 在線留言

  • 高精度棋盤測試圖卡幾何畸變卡

    詳細摘要: 這張測試圖在垂直方向上有7個25mm的類似棋盤型高精度LVT模塊。這張測試圖卡尺寸為8x10。?

    產(chǎn)品型號:所在地:深圳市更新時間:2022-12-07 在線留言

  • 畸變測試點圖幾何點畸變卡

    詳細摘要: 中型圖卡尺寸為24×36,XL圖卡尺寸為44×66。對于中型圖點的直徑尺寸為0.498(高有15個點)和0.299直徑長的小點(高25個點)兩種。

    產(chǎn)品型號:所在地:深圳市更新時間:2022-12-07 在線留言

  • GRID/重合測試圖相機畸變卡

    詳細摘要: 測試圖在白色背景上有水平23個和垂直53個直線柵格。3個網(wǎng)格線從中間劃分外圍的3行網(wǎng)格。

    產(chǎn)品型號:所在地:深圳市更新時間:2022-12-07 在線留言

  • HDTV GRID/重合測試圖高清電視畸變卡

    詳細摘要: 該測試圖由分布在白色背景上的水平方向23個和垂直方向43個柵線形成的24x42個方格結(jié)構(gòu)組成。

    產(chǎn)品型號:所在地:深圳市更新時間:2022-12-07 在線留言

  • 高清幾何畸變測試卡畸變卡

    詳細摘要: 大眾眼球:大約1/18h 1/36h

    產(chǎn)品型號:所在地:深圳市更新時間:2022-12-07 在線留言

  • 失真和色差測試卡十字幾何畸變卡

    詳細摘要: TE251設(shè)計用于測量數(shù)碼相機的失真。它包含在白色背景的黑十字架。

    產(chǎn)品型號:所在地:深圳市更新時間:2022-12-07 在線留言

  • 不連續(xù)網(wǎng)格失真畸變卡

    詳細摘要: TE248設(shè)計用于測量數(shù)碼相機的失真。它包含在白色背景上的黑線細小網(wǎng)格。

    產(chǎn)品型號:所在地:深圳市更新時間:2022-12-07 在線留言

  • 點圖卡畸變測試圖卡

    詳細摘要: 其中一個有31行的點和其他15行的點。 它們可用于確定失真和色差。

    產(chǎn)品型號:所在地:深圳市更新時間:2022-12-07 在線留言

  • 重合測試圖畸變測試卡

    詳細摘要: 該測試圖設(shè)計用于確定在主R,G,B型號之間存在相對水平和垂直的偏移量。

    產(chǎn)品型號:所在地:深圳市更新時間:2022-12-07 在線留言

  • 傾斜邊緣傾斜棋盤卡

    詳細摘要: TE261傾斜邊緣目標在背景中有一個傾斜的棋盤,5個低對比度傾斜邊緣和前面的周圍灰色補丁。

    產(chǎn)品型號:所在地:深圳市更新時間:2022-12-06 在線留言

  • 棋盤測試圖鏡頭多功能棋盤測試卡

    詳細摘要: TE102測試圖被設(shè)計為檢查幾何和分辨率。

    產(chǎn)品型號:所在地:深圳市更新時間:2022-12-06 在線留言

  • 棋盤測試卡分辨率畸變測試卡

    詳細摘要: TE102測試圖被設(shè)計為檢查幾何和分辨率。

    產(chǎn)品型號:所在地:深圳市更新時間:2022-12-06 在線留言

  • 幾何(BALL)測試圖

    詳細摘要: T06測試卡被設(shè)計用來檢查幾何和分辨率。

    產(chǎn)品型號:所在地:深圳市更新時間:2022-12-06 在線留言

  • 棋盤測試圖幾何分辨率測試卡

    詳細摘要: T06測試卡被設(shè)計用來檢查幾何和分辨率。

    產(chǎn)品型號:所在地:深圳市更新時間:2022-12-06 在線留言

  • 幾何(BALL)測試卡畸變卡

    詳細摘要: 測試圖設(shè)計用于測量的攝像機和監(jiān)視器的幾何形狀。

    產(chǎn)品型號:所在地:深圳市更新時間:2022-12-06 在線留言

  • 攝像機幾何校準測試卡畸變卡

    詳細摘要: 它由中心一個大圓和周圍的八個位圈。且在9個位置有臥式/立式分辨率楔子。

    產(chǎn)品型號:所在地:深圳市更新時間:2022-12-06 在線留言

  • CCD重合測試卡

    詳細摘要: CCD傳感器建成垂直行像素。這些垂直行將干擾通用型定位圖的垂直線。

    產(chǎn)品型號:所在地:深圳市更新時間:2022-12-06 在線留言

  • 混疊測試圖走樣畸變測試卡

    詳細摘要: TE173專門用于測量走樣?;殳B效應(yīng)是兩個位圖的波紋扭曲造成的干擾。

    產(chǎn)品型號:所在地:深圳市更新時間:2022-12-06 在線留言

  • 棋盤卡ISO-16505-CB

    詳細摘要: 此高對比度“棋盤"(棋盤格)目標用于根據(jù)標準概述的規(guī)格測量失真和放大率。

    產(chǎn)品型號:所在地:深圳市更新時間:2022-12-05 在線留言

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