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成都中冷低溫科技有限公司
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HAST測試機高加速壽命試驗機Burn-in system，是用于調查分析何時出現電子元器件和機械零件的摩耗和使用壽命的問題的試驗設備，其目的是提高環境應力與工作應力、加快試驗過程縮短產品或系統的壽命試驗時間。廣泛用于 PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件及其它電子零件之高溫、高濕、高壓等信賴性試驗等行業。
（售價僅供參考）
HAST測試機高加速壽命試驗機Burn-in system
滿足 IEC60068-2-66、JESD22-A110、JESD22-A118 規范要求
3種控制模式包含：不飽和控制(干濕球溫度控制)、不飽和控制(升溫溫度控制)、濕潤飽和控制
HAST測試機高加速壽命試驗機Burn-in system
是用于調查分析何時出現電子元器件和機械零件的摩耗和使用壽命的問題的試驗設備，其目的是提高環境應力與工作應力、加快試驗過程縮短產品或系統的壽命試驗時間。用于 PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件及其它電子零件之高溫、高濕、高壓等信賴性試驗等行業。
是一種用于評估芯片在不同環境條件下性能和可靠性的測試方法。
一、測試目的
HAST測試Burn-in system主要用于模擬RF射頻芯片在實際應用中可能遇到的高溫、高濕等惡劣環境，以加速芯片的老化過程，從而更早地暴露出潛在的問題。通過測試，可以評估芯片在高溫高濕環境下的穩定性、檢測可能由高溫高濕引起的問題，并驗證芯片的可靠性。
二、測試原理
HAST測試Burn-in system通過在高溫高濕環境下對RF射頻芯片施加應力，模擬芯片在實際應用中可能面臨的惡劣條件。高溫高濕環境會引發一系列物理和化學反應，如熱膨脹、熱應力和腐蝕等，這些因素對芯片的性能和可靠性產生不利影響。在HAST測試Burn-in system中，芯片被暴露在高溫高濕的環境中，通過加速老化過程，從而更早地暴露出潛在的問題。
Burn-in system溫度范圍：+105℃~+150℃
主機尺寸：970MM*710MM*1700MM(W*D*H)
溫度波動度： ±0.5℃
溫度顯示精度： 0.1℃
濕度范圍： 70~10 0% 蒸氣濕度
濕度控制穩定度： ±3%RH
壓力波動均勻度： ±0.1Kg
時間范圍： 0 Hr～999Hr
控制器： PLC可程式彩色觸摸屏控制
內桶材質： SUS316#不銹鋼板
外箱材質： SECC冷鋼板高溫烤漆處理
使用電源： 單相 220V 20A 50/60Hz
安全保護： 超壓保護，超溫保護，缺水保護等
水質要求： 純水或蒸餾水（用戶自備）
聚焦超低溫，低溫，環境模擬，可靠性輔助測試解決方案
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維修：原廠標準服務。
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