詳細摘要： HAST加速模擬老化測試箱，試驗箱適用于IC封裝，半導體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗，使用于在產品...
產品型號：所在地：成都市更新時間：2024-12-25 在線留言注塑機 擠出機 造粒機 吹膜機 吹塑機 吹瓶機 成型機 吸塑機 滾塑機 管材生產線 板材生產線 型材生產線 片材生產線 發泡設備 塑料壓延機
成都中冷低溫科技有限公司
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詳細摘要： HAST加速模擬老化測試箱，試驗箱適用于IC封裝，半導體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗，使用于在產品...
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詳細摘要： （售價僅供參考）zonglen接觸式芯片高低溫沖擊測試設備ATC860，接觸式高低溫設備是成都中冷研發的針對芯片可靠性測試的專用設備，通過測試頭與待測器件直接貼...
產品型號：所在地：成都市更新時間：2024-12-18 在線留言
詳細摘要： （售價僅供參考）用于芯片測試的接觸式高低溫設備，接觸式高低溫設備是成都中冷研發的針對芯片可靠性測試的專用設備，通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現能量傳遞，與...
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詳細摘要： （售價僅供參考）Flex TC接觸式高低溫設備 維修服務，接觸式高低溫設備是以色列Mechanical Devices公司研發的針對芯片可靠性測試的專用設備，通...
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詳細摘要： 導通電阻測試系統HAST試驗箱，導通電阻測試系統可與zonglen HAST高加速老化試驗箱配合使用，主要用于產品導通電阻性能驗證。更好的保證您PCB檢測的精度...
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詳細摘要： CAF測試系統HAST高加速老化試驗箱，CAF測試也叫離子遷移測試，CAF測試是一種用于評估材料中離子遷移性質的實驗方法。該測試通常用于檢測包裝材料、食品接觸材...
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詳細摘要： HAST高加速壽命試驗箱Burn-in Oven，試驗箱適用于IC封裝，半導體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信...
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詳細摘要： 高低溫CHUCK，是一種用于微電子器件測試的重要設備，也被稱為探針臺載物臺。它可以在高低溫環境下進行微電子器件的測試，因此具有高可靠性和高精度。
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詳細摘要： zonglen半導體器件高低溫測試設備chiller，半導體專用溫控裝置（Chiller）主要用于半導體制程中對反應腔室溫度的精準控制，主要由熱交換器、循環泵、...
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詳細摘要： （售價僅供參考）ThermoTST ATC840桌面式快速溫變試驗機，接觸式高低溫設備是成都中冷研發的針對芯片可靠性測試的專用設備，通過測試頭與待測器件直接貼合...
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詳細摘要： （售價僅供參考）桌上型高低溫冷熱臺ATC860，接觸式高低溫設備是成都中冷研發的針對芯片可靠性測試的專用設備，通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現能量傳遞，與...
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詳細摘要： （售價僅供參考）桌面式高低溫測試儀，接觸式高低溫設備是成都中冷研發的針對芯片可靠性測試的專用設備，通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現能量傳遞，與傳統氣流式高...
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詳細摘要： （售價僅供參考）Thermal Inducing System高低溫氣流儀TS780，溫度范圍-80℃到+225℃，溫度轉換測試能力。溫度轉換從-55℃到+12...
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詳細摘要： HAST測試機Burn-in Chamber高加速老化測試，試驗箱適用于IC封裝，半導體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等...
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詳細摘要： zonglen高低溫載物臺Thermal CHUCK，是一種用于微電子器件測試的重要設備，也被稱為探針臺載物臺。它可以在高低溫環境下進行微電子器件的測試，因此具...
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詳細摘要： 中冷HAST高低溫試驗箱非飽和度老化試驗機，試驗箱適用于IC封裝，半導體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試...
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詳細摘要： zonglen高低溫載物臺，是一種用于微電子器件測試的重要設備，也被稱為探針臺載物臺。它可以在高低溫環境下進行微電子器件的測試，因此具有高可靠性和高精度。
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詳細摘要： 微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統HAST，微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統是一種用于評估微波器件在很差條件下的性能和可靠性的測試系統。該系統通過施加高加速偏...
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詳細摘要： 高低溫載物臺CHUCK探針臺卡盤，是一種用于微電子器件測試的重要設備，也被稱為探針臺載物臺。它可以在高低溫環境下進行微電子器件的測試，因此具有高可靠性和高精度。
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詳細摘要： 高低溫載物臺CHUCK卡盤，是一種用于微電子器件測試的重要設備，也被稱為探針臺載物臺。它可以在高低溫環境下進行微電子器件的測試，因此具有高可靠性和高精度。
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