日本AET介電常數(shù)測(cè)試儀
日本 AET 介電常數(shù)測(cè)試儀是一款用于測(cè)量材料介電常數(shù)和介電損耗的專業(yè)儀器，以下是其詳細(xì)介紹：
產(chǎn)品型號(hào)及技術(shù)參數(shù)
TE 空洞共振腔型號(hào)：可測(cè)試頻率范圍為 10G-40GHz，適用于測(cè)量厚度小于 0.3mm 的薄膜。其介電常數(shù)準(zhǔn)確度為 ±1%，介電損耗準(zhǔn)確度為 ±5%，樣品形狀為方形片狀，不同頻率下對(duì)樣品尺寸要求不同，如 10GHz 時(shí)需大于 50mm×50mm，20GHz 時(shí)需大于 40mm×40mm，28/40GHz 時(shí)需大于 30mm×30mm1.
同軸共振腔型號(hào)：可測(cè)試頻率范圍為 800M～9.4GHz，介電常數(shù)范圍 1-15，準(zhǔn)確度 ±1%，介電損耗范圍 0.1-0.001，準(zhǔn)確度 ±5%。該型號(hào)共有兩種同軸共振腔，Type A 可測(cè)頻點(diǎn)為 0.8/2.45/4.2/5.8/7.6GHz，Type B 可測(cè)頻點(diǎn)為 1/3/5/7/9GHz23.
工作原理
日本 AET 介電常數(shù)測(cè)試儀利用微波技術(shù)結(jié)合高 Q 腔以及 3D 電磁場(chǎng)模擬技術(shù)，采用德國(guó) CST 公司的 3D 電磁類比軟件 MW-StudioTM，測(cè)量材料的高頻介電常數(shù)，從而保證了介電常數(shù)測(cè)量結(jié)果的精確性23.
主要特點(diǎn)
測(cè)量穩(wěn)定性高：TE 空洞共振腔有固定的間隙插入待測(cè)樣品，相比將樣品夾在諧振器中的方法，測(cè)量穩(wěn)定性更優(yōu)，且適用于各種材料，包括軟性和脆性樣品1.
非破壞性測(cè)量：同軸共振腔適用于不同形狀樣品的非破壞性測(cè)量，操作簡(jiǎn)易，內(nèi)置的反饋振蕩器電路可實(shí)現(xiàn)精確量測(cè)123.
高損耗分辨率：TE 空洞共振腔模式具有較高的損耗分辨率，尤其適合低損耗薄膜的測(cè)量1.
應(yīng)用領(lǐng)域
主要應(yīng)用于 5G 材料、高速數(shù)字 / 微波電路基底材料、濾波器、介電天線、化學(xué)制品、薄膜與新材料、半導(dǎo)體材料、電子材料（包括 CCL 和 PCB）、陶瓷材料、納米材料、光電材料等領(lǐng)域123.
符合標(biāo)準(zhǔn)
TE 空洞共振腔符合標(biāo)準(zhǔn) JIS R1641、IPC-TM650 2.5.5.13；其他測(cè)量方法也符合如 JIS C2565、ASTM D2520、IEC 60556 等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)1.
日本AET介電常數(shù)測(cè)試儀
