Topsizer Plus 激光粒度分析儀

                                                              —— 中國粒度檢測與分析技術(shù)的匠心之作

       Topsizer Plus  激光粒度分析儀是繼廣受贊譽(yù)的 Topsizer  后， 作為馬爾文帕納科的全資子公司， 珠海歐美克儀器有限公司推出的又一款粒度分析儀器。該儀器引入了的光學(xué)設(shè)計，結(jié) 合歐美克近 30 年的技術(shù)積累，采用化的供應(yīng)鏈體系，使激光衍射法的測試范圍達(dá) 0.01-3600μm， 代表了當(dāng)前國產(chǎn)激光粒度儀的國際化技術(shù)水平。Topsizer Plus 保持了 Topsizer 量程寬、重復(fù)性好、分 辨力高、真實測試性能強(qiáng)和智能化程度高等優(yōu)點， 通過進(jìn)一步提升光學(xué)設(shè)計、硬件和反演算法，拓 展了其測試范圍以及實際測試性能，應(yīng)用遍及化工、機(jī)械、建材、能源、醫(yī)藥等現(xiàn)代工業(yè)的各個領(lǐng) 域。

       在鋰離子電池、制藥、水文和精細(xì)化工等諸多行業(yè)，很多用戶選擇歐美克激光粒度儀，尤其是 Topsizer 系列。除了對歐美克品牌和技術(shù)的信賴外，還因為其源自馬爾文帕納科的產(chǎn)品技術(shù)及質(zhì)量管 理體系，使得儀器測試結(jié)果具有優(yōu)良的準(zhǔn)確真實性和靈敏度。

       不管是制藥用的原材料、制劑還是鋰離子電池正負(fù)極材料等，Topsizer 系列產(chǎn)品保證了測試結(jié)果 和分析能力與國內(nèi)外、行業(yè)上下游黃金標(biāo)準(zhǔn)保持一致。這不僅為用戶節(jié)省了方法開發(fā)和方法轉(zhuǎn)移上 的時間和成本，更重要的是可避免粒徑檢測不準(zhǔn)帶來的經(jīng)濟(jì)損失和風(fēng)險。無論在研發(fā)、過程控制還 是質(zhì)量控制上， 都能夠為用戶帶來真正的價值。

一、用途：

   測量樣品的粒度分布。既可測量在液體中分散的樣品，也可測量須在氣體中分散的粉體材料。

二、工作原理：

   一束平行光在傳播過程中遇到障礙物顆粒，光波會發(fā)生散射（衍射）偏轉(zhuǎn)， 偏轉(zhuǎn)的角度跟顆粒的大 小相關(guān)。散射（衍射）現(xiàn)象可以通過 “Mie 散射理論 ”來描述。 一般來說， 顆粒粒徑越大，光波 偏轉(zhuǎn)的角度越小；顆粒粒徑越小，光波偏轉(zhuǎn)角度越大。激光粒度分析儀利用該現(xiàn)象， 測量散射光能 的分布反演計算被測顆粒的粒度分布。

三、的光學(xué)系統(tǒng)

雙光源技術(shù) 

       Topsizer Plus 激光粒度分析儀采用雙光源設(shè)計，紅光主光源為進(jìn)口氦-氖激光器，波長 0.6328μm；并 有藍(lán)光輔助半導(dǎo)體光源， 波長 0.466μm，極大地提高了對納米級顆粒及少量大顆粒的分辨力。在國 產(chǎn)主流激光粒度分析儀中，紅藍(lán)雙色光源技術(shù)為歐美克采用。

進(jìn)口高性能氦氖激光器及電源，具有穩(wěn)定可靠的高性能光學(xué)質(zhì)量

       采用以長壽命，低噪聲， 高穩(wěn)定性著稱的進(jìn)口氦氖激光器及配套激光電源，為儀器提供近 乎光學(xué)質(zhì)量。在氣體激光器本身帶來的穩(wěn)定波長基礎(chǔ)上，Topsizer Plus 高性能光源系統(tǒng)功率穩(wěn)定, 預(yù)熱時間短,  偏振比高且穩(wěn)定，波形純度高等特性。確保儀器在不同工作環(huán)境下都能保持穩(wěn)定工作， 具有無需用戶標(biāo)定的持久準(zhǔn)確性性能。

直線光路設(shè)計

      Topsizer Plus 激光粒度分析儀光路系統(tǒng)采用密閉式直線光路設(shè)計，無多余反射光學(xué)部件造成的雜散光， 亦無粉塵污染干擾， 同時采用高精度全鋁合金光學(xué)平臺， 確保光路穩(wěn)固可靠。

后傅立葉變換單鏡頭設(shè)計

      單鏡頭設(shè)計，采用透鏡后傅立葉變換結(jié)構(gòu)，突破了傅立葉透鏡的光瞳制約， 窗口前后向各空間角度 均可接收精準(zhǔn)的散射光信號。 單鏡頭光路設(shè)計將折射、反射面減到最少，可以進(jìn)一步降低儀器工作 時的背景噪聲低水平，提高了儀器的信噪比。

長焦距的傅里葉透鏡

       Topsizer Plus 激光粒度分析儀選用長焦距的傅立葉透鏡，通過增加測量窗口到光電探測器平面的距離， 使光電探測器能夠準(zhǔn)確分辨更小角度的散射光信號，極大增強(qiáng)了大顆粒的測試能力，儀器的測量上  限達(dá) 3600μm。

合理分布、高感光度的進(jìn)口光電探測器

       Topsizer Plus 激光粒度分析儀光電探測器為特殊定制的進(jìn)口光電探測器，確保儀器具有較高的分辨力 和靈敏度。 探測通道數(shù)多達(dá) 103 個，由前向、側(cè)向、大角度和后向光電探測器組成三維立體檢測系 統(tǒng)，探測角大于 140 度，最小探測角 0.016 度。結(jié)合藍(lán)光散射信號，實現(xiàn)了散射光全角度范圍信號全面準(zhǔn)確的無縫接收。

智能自動對中

四、功能強(qiáng)大的分析軟件

      Topsizer Plus 自動對中在幾十秒內(nèi)即可完成，既可作為自動測量的一部分，亦可在屏幕上單擊鼠 標(biāo)來完成。 智能自動對中系統(tǒng)光學(xué)對中精確, 

保證了多次測量的重復(fù)性。

出色的分散系統(tǒng)

       濕法進(jìn)樣系統(tǒng)： SCF- 105B 全自動循環(huán)進(jìn)樣器， 除加樣外的粒度測試操作均可自動控制完成。進(jìn)樣池 采用 316L 不銹鋼，

配置高效率 50W 底部超聲及速度可達(dá) 4000 轉(zhuǎn)/分鐘的精密攪拌裝 置，均無極連續(xù)可調(diào)。

       根據(jù)需要可選更多不同特性（例如微量、微量循環(huán)、耐腐蝕等）的濕法進(jìn)樣器

豐富的自定義報表功能， 方便用戶靈活的獲取數(shù)據(jù)和定制報表樣式。

       用戶可以靈活定義報告的標(biāo)題、 Logo，選擇在報告中顯示的模塊，并對這些模塊進(jìn)行設(shè)置。如可調(diào) 整行數(shù)、列數(shù)， 坐標(biāo)軸范圍，報告內(nèi)容和參數(shù)等均可根據(jù)需要設(shè)定。

軟件設(shè)計模塊化，儀器狀態(tài)可視化，操作界面人性化。 流程界面清晰明了， 擁有導(dǎo)航功能。

      儀器具備智能化自動化操作。能夠自檢和自動識別進(jìn)樣系統(tǒng)；每次測量前能自動測量電背景，有效 消除電噪聲對測試結(jié)果的影響。配置自動化進(jìn)樣器可以進(jìn)行全自動干濕法粒度測試，手動測樣亦有 清晰的導(dǎo)航測試功能。

具備 SOP 標(biāo)準(zhǔn)操作流程， 減少人為因素的影響，使分析測試流程標(biāo)準(zhǔn)化。

       SOP 測量程序編輯及運(yùn)行：

多種數(shù)據(jù)分析模型，滿足不同特性樣品的測試需要。體積分布、表面積分布、長度分布和數(shù)量分布 之間可以相互轉(zhuǎn)換?？筛鶕?jù)用戶需要設(shè)置的粒徑段。

完善、開放的樣品特性參數(shù)數(shù)據(jù)庫，具有常用樣品折射率和吸收率參數(shù)。

多種方式的測量數(shù)據(jù)導(dǎo)出，方便數(shù)據(jù)交流。

提供符合 GMP 附件《計算機(jī)化系統(tǒng)》要求的軟件解決方案，具備具有兼容 CFDA/FDA cGMP 21CFR 要 求的用戶分級、權(quán)限管理、數(shù)據(jù)完整性及可追溯功能。

五、的儀器性能

       Topsizer  Plus 對于 Topsizer 的升級中的一個重要特點是保留了在 0.02-2000um 段數(shù)據(jù)與 Topsizer 一致性。通過光路、硬件和算法的升級進(jìn)一步提升了測試范圍至 0.01-3600um。

寬廣的測量范圍

      與市場上其他使用不同技術(shù)通過拼接的方案提高測試范圍不同， Topsizer  Plus  的實測范圍為 0.01-3600um ，使用靜態(tài)光散射一種技術(shù)實現(xiàn)從亞微米顆粒到毫米級顆粒的檢測， 嚴(yán)格符合 GBT19077-2016 粒度分析激光衍射法的國標(biāo)要求， 并能滿足不同粉體行業(yè)對顆粒粒度檢測與控制的 各種需求。

對大顆粒具有強(qiáng)大測試能力

對納米、亞微米等超細(xì)顆粒具備識別能力

杰出的分辨能力

       Topsizer Plus 能夠精確測定樣品中顆粒分布的微小變化，準(zhǔn)確反映樣品的實際粒度分布， 能充分滿足 技術(shù)研究和質(zhì)量控制的需要。 圖中的混合物樣品為 5.1um/14um/37.8um 標(biāo)樣按比例配置。

良好的重復(fù)性

       Topsizer Plus 采用全自動的激光校正系統(tǒng)、自動對中系統(tǒng)，從而確保了激光角度校準(zhǔn)的準(zhǔn)確度，避免 了光路的飄移， 確保測試的重復(fù)性誤差小于 0.5%（標(biāo)準(zhǔn)粒子 D50）。

良好的再現(xiàn)性

      不同主機(jī)或不同進(jìn)樣器之間具有良好的再現(xiàn)性。

快速的測試速度

      Topsizer Plus 優(yōu)秀快速的分散系統(tǒng)為儀器的快速測試提供了良好前提， 使常規(guī)的測試能在 10 秒內(nèi)快 速完成，

大幅提升了測試的效率，更好的滿足了用戶的需求。

超高靈敏度

       多達(dá) 103 個光電探測通道，由雙光源及前向、側(cè)向、大角度、后向光電探測器組成三維立體無盲區(qū) 檢測系統(tǒng)， 

探測角度 140 度。每次測試之前，軟件自動檢測信噪度，使儀器對大小顆粒的微小 變化有著超高的靈敏度。

適應(yīng)性

       可選具有分散能力分散系統(tǒng)，即使對于超大密度的金屬粉末、玻璃粉末均有良好的分散效果而 不沉淀，

從而滿足各種不同密度的顆粒粒度測試的需要。

七、技術(shù)指標(biāo)

1.測量范圍：0.01-3600μm（濕法， 取決于樣品）

2.測量原理：全量程米氏散射理論

3.重復(fù)性誤差： ≤0.5%（標(biāo)樣 D50 偏差）

4.準(zhǔn)確性誤差： ≤±0.6%（標(biāo)樣 D50 偏差）

5.測量速度：常規(guī)測量 10 秒內(nèi)完成

6.進(jìn)樣方式：

      濕法自動化測試*，進(jìn)樣器采用帶進(jìn)口電機(jī)的大功率精密離心泵，攪拌速度可達(dá) 4000  轉(zhuǎn)/分鐘，

      內(nèi)置超聲， 均為無級連續(xù)可調(diào)（*配 SCF- 105B 時）；

7.光路系統(tǒng)：

      雙光源設(shè)計，采用進(jìn)口氦-氖激光器，波長 0.6328 微米；并有半導(dǎo)體藍(lán)光光源， 波長 0.466 微米， 極大地提高了對納米級顆粒及少量大顆粒的分辨力；

      激光功率始終穩(wěn)定， 功率波動小于 0.5%；

      儀器設(shè)計符合國際激光安全規(guī)范，具備激光束自動防護(hù)功能；

      采用一體式高精度全鋁合金光學(xué)平臺，長期穩(wěn)固可靠，探測器自動對中；

      單鏡頭設(shè)計，采用透鏡后傅立葉變換結(jié)構(gòu)；

      光路系統(tǒng)全封閉，有效解決粉塵污染問題。

8.檢測器：

      探測通道數(shù) 103 個，由前向、側(cè)向、大角度和后向光電探測器組成三維立體檢測系統(tǒng)， 探 測角 140 度，最小探測角 0.016 度，無盲區(qū)；

      采樣電路掃描頻率： 10kHz ，8 通道。

9.軟件功能：

      豐富的自定義報表功能， 方便用戶靈活的獲取數(shù)據(jù)和定義報表樣式；

      軟件設(shè)計模塊化，儀器狀態(tài)可視化， 操作界面人性化；

      具備 SOP 標(biāo)準(zhǔn)操作流程功能；

      多種數(shù)據(jù)分析模型， 滿足不同特性樣品的測試需要；

      有導(dǎo)航功能的清晰、明了的流程界面；

      具備人工智能， 儀器具備自檢功能， 自動識別進(jìn)樣系統(tǒng)，自動判斷和干預(yù)儀器對中； 每次測量前能自動測量電背景， 有效消除電噪聲對測試結(jié)果的影響；

      多種方式的測量數(shù)據(jù)導(dǎo)出，方便數(shù)據(jù)交流；

      完善、開放的樣品特性參數(shù)數(shù)據(jù)庫， 具有常用樣品折射率和吸收率參數(shù)；

      體積分布、表面積分布、長度分布和數(shù)量分布之間可以相互轉(zhuǎn)換。

      提供符合 GMP 附件《計算機(jī)化系統(tǒng)》要求的軟件解決方案，具備用戶分級、權(quán)限管理、數(shù)據(jù)完整性及可追溯功能。

10.外觀尺寸：

      主機(jī)： 1330×266×380 mm

      循環(huán)進(jìn)樣器： 210×260×345mm（SCF- 105B）

以前產(chǎn)品 圖片23