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XAU光譜分析儀 X熒光鍍層測厚儀 ROHS多層元素檢測儀

參考價 19.27
訂貨量 ≥1
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  • 公司名稱福建赫鑫科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地福州市
  • 廠商性質其他
  • 更新時間2022/8/25 9:02:27
  • 訪問次數350
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福建赫鑫科技有限公司注冊地址位于福建省泉州市豐澤區城東街道潯美社區美仙路500號美仙山花苑8幢1904室,注冊機關為泉州市工商行政管理局豐澤分局,法人代表為黃福清,經營范圍包括一般項目:技術服務、技術開發、技術咨詢、技術交流、技術轉讓、技術推廣;會議及展覽服務;人工智能應用軟件開發;人工智能公共服務平臺技術咨詢服務;機械設備研發;數字內容制作服務(不含出版發行);文藝創作;影視美術道具置景服務;新材料技術研發;信息技術咨詢服務;廣告設計、代理;廣告發布;廣告發布(非廣播電臺、電視臺、報刊出版單位);廣告制作;組織文化藝術交流活動(除依法須經批準的項目外,憑營業執照依法自主開展經營活動)。
光譜儀、元素分析儀
性能優勢:1.微小樣品檢測:最小測量面積0.03mm2(加長測量時間可小至0.01mm2)2.變焦裝置算法:可改變測量距離測量凹凸異形樣品,變焦距離可達0-30mm3.的EFP算法:Li(3)-U(92)元素的涂鍍層,多層多元素,甚至有同種元素在不同層也可精準測量
XAU光譜分析儀 X熒光鍍層測厚儀 ROHS多層元素檢測儀 產品信息

性能優勢:

1.微小樣品檢測:最小測量面積0.03mm2(加長測量時間可小至0.01mm2)

2.變焦裝置算法:可改變測量距離測量凹凸異形樣品,變焦距離可達0-30mm

3.的EFP算法:Li(3)-U(92)元素的涂鍍層,多層多元 素,甚至有同種元素在不同層也可精準測量。

4.*的解譜技術:減少能量相近元素的干擾,降低檢出限。

5.高性能探測器:SDD硅漂移窗口面積25mm2探測器。

6.X射線裝置:微焦加強型射線管搭配聚焦裝置。

核心的EFP算法

專業的研發團隊在Alpha和Fp法的基礎上,多元迭代開發出EFP核心算法,結合*的光路轉換的技術、變焦結構設計及穩定的多道脈沖分析采集系統,只需要少量的標樣來校正儀器因子,可測試重復鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機物層的厚度及成分含量。









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