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Microchip 53100A相位噪聲分析儀 200MHz

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產(chǎn)品型號53100A

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更新時間：2022-10-20 08:47:08瀏覽次數(shù)：634次

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產(chǎn)品簡介

概述53100A相位噪聲分析儀可以測量高性能RF信號源的幅度、相位和頻率穩(wěn)定性

詳細(xì)介紹

概述

53100A相位噪聲分析儀可以測量高性能RF信號源的幅度、相位和頻率穩(wěn)定性。測試頻率范圍為1MHz到200MHz。53100A可以告訴您關(guān)于您被測設(shè)備的任何穩(wěn)定性特性，時間刻度范圍可以從飛秒到天。無論是單獨(dú)使用還是集成到自動化測試系統(tǒng)中，小巧的外形和業(yè)界的測量速度使得51300A可以適用于大多數(shù)應(yīng)用。

繼承并擴(kuò)展了3120A和51XXA系列儀器的優(yōu)點(diǎn)，53100A可以以更低的成本來快速精確地測量SSB單邊帶相位噪聲和ADEV阿倫反差。得益于改進(jìn)地設(shè)計(jì)和制造工藝進(jìn)步，53100A在可靠性和性能上有了巨大地提升。

特點(diǎn)

信號輸入和參考輸入，頻率范圍1MHz到200MHz

沒有相位鎖定和不需要測量校準(zhǔn)

單或雙參考振蕩器輸入允許互相關(guān)測量

TSC 51XXA命令和數(shù)據(jù)流仿真功能減少了重寫現(xiàn)有測試腳本的負(fù)擔(dān)

直觀的圖形界面使用戶能夠快速開始測量

測量

亞皮秒精度相位和頻率差的實(shí)時帶狀圖

頻率計(jì)數(shù)精度每秒鐘13位以上，17位

ADEV典型值<5E-14（1秒）

可以測量MDEV、HDEV、TDEV

相位噪聲和幅度噪聲偏移范圍為0.001Hz到1MHz，水平典型小于-175dBc/Hz（10MHz載波）

時間抖動、殘余FM調(diào)頻和SSB載波/噪聲比率

在Windows系統(tǒng)上使用高性能的基于電腦的DSP技術(shù)，所有這些測量都可以同時進(jìn)行。您可以查看、保存、比較、打印和導(dǎo)出各種格式數(shù)據(jù)，包括TSC 51XXA兼容的。測量精度取決于用戶提供的外部參考源，參考源頻率為1MHz到200MHz，儀器本身不需要校準(zhǔn)。

規(guī)格（25℃環(huán)境），除非備注其他溫度

性能

頻率范圍

1到200MHz

ADEV

<7E-14 (1秒)

<5E-16(1000秒)

相位噪聲規(guī)格

偏移頻率范圍：0.001Hz到1MHz

系統(tǒng)噪聲平面