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顯微光譜測量系統-MicroTEQ-B1

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更新時間：2022-11-16 10:35:52瀏覽次數：143次

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所在地區：北京北京市

產品簡介

MicroTEQ-B1顯微光譜測量系統，具備透反射測量功能

詳細介紹

MicroTEQ-B1顯微光譜測量系統，具備透反射測量功能。系統選用了共焦收光方式，形成了較小的收光面；除此之外，視野+成像+收光+物面的共軛，可使觀察和測試同時進行。系統中的顯微反射測量模塊可適配市面上大部分主流顯微鏡，滿足客戶對顯微鏡的不同需求。


成像照片


下圖為使用10X物鏡對50um小孔進行透射率測量時的聚焦和實測畫面。

實測圖譜

系統參數

型號

MicroTEQ-B1

光譜儀

可根據情況自行選配

顯微反射測量模塊

兼容大部分主流顯微鏡

尺寸

220x172x68 mm

重量

2.8 kg

支持波段

400-700 nm

反射照明支持相機尺寸

1/2"

測量光斑

  1. 10 um @ 10x 物鏡 @ 100 um 光纖
  1. 50 um @ 10x 物鏡 @ 500 um 光纖




關鍵詞：光譜儀
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