蔡司電子顯微鏡

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參考價: ￥ 500000

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產品型號SEM

品牌

廠商性質代理商

所在地蘇州市

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更新時間：2020-11-26 13:46:18瀏覽次數：809次

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昆山友碩新材料有限公司

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產品簡介

蔡司GeminiSEM系列高對比度、低電壓成像的場發射掃描電子顯微鏡

　　具有出色的探測效率，能夠輕松地實現亞納米分辨成像。無論是在高真空還是在可變壓力模式下，更高的表面細節信息靈敏度讓您在對任意樣品進行成像和分析時都具備更佳的靈活性，為您在材料科學研究、生命科學研究、工業實驗室或是顯微成像平臺中獲取各種類型樣品在微觀世界中清晰、真實的圖像，提供靈活、可靠的場發射掃描電子顯微鏡技術和方案。

詳細介紹

蔡司GeminiSEM系列高對比度、低電壓成像的場發射掃描電子顯微鏡

　　具有出色的探測效率，能夠輕松地實現亞納米分辨成像。無論是在高真空還是在可變壓力模式下，更高的表面細節信息靈敏度讓您在對任意樣品進行成像和分析時都具備更佳的靈活性，為您在材料科學研究、生命科學研究、工業實驗室或是顯微成像平臺中獲取各種類型樣品在微觀世界中清晰、真實的圖像，提供靈活、可靠的場發射掃描電子顯微鏡技術和方案。

基本規格	蔡司 GeminiSEM 500	蔡司 GeminiSEM 450	蔡司 GeminiSEM 300
	熱場發射電子槍，穩定性優于0.2 %/h
加速電壓	0.02 - 30 kV
探針電流	3 pA - 20 nA	3 pA - 40 nA	3 pA - 20 nA
探針電流	（100 nA配置可選）	（100 nA或300 nA配置可選）	（100 nA配置可選）
存儲分辨率	高達32k × 24k 像素
放大倍率	50 – 2,000,000	12 – 2,000,000	12 – 2,000,000
標配探測器	鏡筒內Inlens二次電子探測器
標配探測器	樣品室內的Everhart Thornley二次電子探測器
可選配的項目	鏡筒內能量選擇背散射探測器
	-	角度選擇背散射探測器	角度選擇背散射探測器
	環形STEM探測器（aSTEM 4）
	EDS能譜儀
	EBSD探測器(背散射電子衍射)
	NanoVP可變壓力模式
	高效VPSE探測器（包含在NanoVP可變壓力選件中）
	局部電荷中和器
	可訂制特殊功能樣品臺
	環形背散射電子探測器
	陰極射線熒光探測器